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色环电阻色码对照表

插件电阻(轴向封装电阻)使用色环表达电阻的阻值,常见的有4色环电阻(例如一些常见的碳膜电阻)和5色环电阻(例如相对于碳膜电阻精度更高的金属膜电阻)。 不同颜色的环用于表达有效数字、倍率、误差等信息。 色环方向识别方法 方法1:通过色环间距判断 通常最后一环(误差色环)与前一环的间距应该比其他色环的间距大一些,但一些厂商制造的电阻的这一特征可能不是很明显(尤其是色环多封装小的情况下),这时就要使用其他方法来分辨哪个环是第一环。 方法2:找误差环法,快速找出误差环 误差环是末尾环(最右边的色环)。常用的误差环色:棕色、金色、银色。特别是金色、银色、底色,不会用于第一环和第二环,所以只要有金色、银色、底色环,就基本认定末尾环的位置。 方法3:读标称值法,读值是否为标称阻值 仅靠色环间距无法判定方向,可尝试读值,与标称阻值进行对比,与标称值不相符的为错误方向。例如:色序:棕、黑、黑、黄、棕,其值为:100 × 10000 Ω = 1 MΩ 误差为 1%,属于正常标称值,若反色序:棕、黄、黑、黑、棕,其值为 140 × 1 Ω = 140 Ω,误差为 1%,属于非正常标称值。 常用电阻阻值表 电阻标准由 IEC(国际电工委员会)制定,标准文件为 IEC60063 和 EN60115-2。电子元器件厂商为了便于元件规格的管理和选用,同时也为了使电阻的规格不至太多,采用了统一的标准组成的元件的数值。电阻的标称阻值分为 E6、E12、E24、E48、E96、E192 六大系列,分别使用于允许偏差为 ±20、± 10%、±5%、±2%、±1%、±0.5% 的电阻器。其中以 E24 和 E96 两个系列为最常用。这里的 “E” 表示“指数间距”(Exponential Spacing),它指明了电阻的基准值(有效数字),计算公式如下: $$ R=\left(\sqrt[n]{10}\right)^m $$ 指数 n 的值是 E24,E96 等标准中的数值 24 和 96,m 的取值范围为 0 ~ (n - 1)。所以,E24 有 24 个基准值,E96 有 96 个基准值。有了这些基准值,再乘以 10 的 x 次方,就可以得到各种各样的电阻值了。 这里列出 E24 系列标称阻值...

晶体三极管的三种工作状态

晶体三极管的工作状态主要有三种:截止状态、放大状态和饱和状态。我们通常用截止和饱和状态实现开关控制,用放大状态来放大微弱信号(如音频信号)。 1、截止状态 三极管发射结(基极与发射极间的 PN 结)所加正向偏置电压小于导通电压 $U_{on}$(硅管0.7V,锗管0.3V)或是加反向偏置电压: NPN:$U_{be} < U_{on}$ PNP:$U_{be} > -U_{on}$ 此时,$I_b = 0$,$I_c = 0$,CE 间的阻值无穷大,相当于开关断路。 2、放大状态 三极管发射结正向偏置电压大于或等于导通电压 $U_{on}$(硅管 0.7V,锗管 0.3V),并且集电结(基极与集电极间的 PN 结)反偏。 NPN:$U_{be} ≥ U_{on}$,$U_{cb} > 0$ PNP:$U_{be} ≤ -U_{on}$,$U_{cb} < 0$ $I_c$ 不随 $U_{ce}$ 的变化而改变,在 $I_b$ 一定时,$I_c$ 保持恒定,此时可等效为恒流源。 3、饱和状态 三极管发射结正向偏置电压大于或等于导通电压 $U_{on}$(硅管 0.7V,锗管 0.3V),并且集电结正偏。 NPN:$U_{be} ≥ U_{on}$,$U_{cb} ≤ 0$ PNP:$U_{be} ≤ -U_{on}$,$U_{cb} ≥ 0$ $I_c$ 随 $U_{ce}$ 的增大而增大,不受 $I_b$ 的控制。在饱和状态有一个明显的特征:$I_c < β * I_b$。 饱和状态时的 $U_{ce}$ 叫饱和压降 $U_{ces}$,晶体管手册上一般列出在某个条件下的饱和压降 $U_{ces}$,如 3DG130C 在 $I_c$ = 300mA 时, $U_{ces}$ ≤ 0.8V。一般 NPN 型小功率硅管的 $U_{ces}$ 取 0.3V,PNP 锗管取 -0.1V,大功率硅管在大电流工作时, $U_{ces}$ 将大于 1V。 此时 CE 间的压降较小,相当于开关闭合。 值得注意的是,NPN 三极管 与 PNP 三极管的输入输出特性曲线分别在第一和第三象限,也就是说 PNP 三极管的电压条件反向后与 NPN 三极管是一致...

PN 结正向偏置和反向偏置的原理

正向偏置: 当外加直流电压使 PN 结 P 型半导体的一端电位高于 N 型半导体一端的电位时,称为正偏。此时,外加电场的方向与 PN 结产生的内电场方向相反,削弱了内电场,使 PN 结变薄,有利于两区多数载流子向对方扩散,形成正向电流。 正向偏置使 PN 结的电阻降低,呈现出低阻、导通状态。 反向偏置: 当外加直流电压使 PN 结 N 型半导体的一端电位高于 P 型半导体一端的电位时,称为反偏。此时,外加电场的方向与 PN 结产生的内电场方向一致,因而加强了内电场,使 PN 结加宽,阻碍了多子的扩散运动。 反向偏置使 PN 结的电阻增加,呈现出高阻、截止状态。由于少子浓度主要与温度相关,因此反向电流与反向电压几乎无关。...

矿石检波器

1874 年,卡尔·费迪南德·布劳恩发现了某些天然矿石具有单向导通的特性,这可以被视为人类第一次发现半导体的整流特性,也是矿石检波二极管最早的雏形。随后,在 1894 年,贾格迪什·钱德拉·博斯利用方铅矿的单向导电性,制成了世界上第一个检波器——矿石检波器。英文叫:crystal detector,又叫:cat's whisker radio detector(猫须检波器),因为它是用一根细金属丝,与方铅矿进行接触,利用接触点的单向导电性进行检波的。 早期人们并没有完全理解矿石检波器的内在机理,直到 20 世纪 30 年代,人们才逐渐认识到矿石检波器实际上是利用金属-半导体接触点形成的肖特基势垒具有的单向导电性进行检波的。 肖特基势垒具有单向导电性的原理是基于金属与半导体(通常是N型半导体)接触时形成的势垒。当金属与 N 型半导体接触时,由于金属的功函数通常高于半导体的功函数,电子会从半导体流向金属,直到两者的费米能级相等。这个过程会在半导体表面形成一层正的空间电荷区,同时产生一个由半导体指向金属的内建电场。 这个内建电场会阻止电子从金属流向半导体,从而形成肖特基势垒。此时,半导体一侧的能带会向上弯曲,形成势垒高度。这个势垒高度决定了电子从金属流向半导体的难易程度。 在正向偏压下(即金属接正电压,半导体接负电压),内建电场会被削弱,半导体一侧的势垒高度降低,从而允许电子从金属流向半导体,形成正向电流。此时,肖特基势垒表现出单向导电性。 反之,在反向偏压下,内建电场会增强,势垒高度增加,电子从半导体流向金属的难度增大,因此反向电流很小。这就是肖特基势垒具有单向导电性的原理。 需要注意的是,肖特基势垒的单向导电性与 PN 结二极管有所不同。在 PN 结二极管中,正向偏压下是由于 P 区和 N 区的多数载流子相互扩散而形成电流;而在肖特基势垒中,正向电流主要是由于金属中的电子进入半导体的导带而形成的。因此,肖特基二极管通常具有更低的正向压降和更快的开关速度。 矿石检波二极管在无线电技术的发展过程中发挥了重要作用。例如,在 1900 年,美国人格林里夫·惠特勒·皮卡德基于矿石检波器成功制造了世界上第一个矿石收音机,这为无线电广播的迅速普及奠定了基础。此外,在无线电通信、电视接收等领域,矿石检波二极管也得到了广泛应用。 矿石检波器的工作原理是基于其单向导电性。当无线电波通过矿石检波器时,矿石会只允许电流在一个方向上通过,从而将无线电信号中的高频成分滤除,只保留音频信号。这样,矿石检波器就能将无线电波转换为可听的声音信号,通过耳机或扬声器播放出来。 除了方铅矿,具有单向导电性的矿石还有黄铁矿**、**硫化锌等。需要注意,这些矿石的导电性能可能受到多种因素的影响,如矿石的纯度、颗粒大小、温度等。因此,在实际应用中,可能需要对矿石进行一定的处理或选择,以获得最佳的导电效果。 矿石检波器有固定矿石检波器和活动矿石检波器两种类型。固定矿石检波器的矿石是固定的,无法调整其位置或压力。而活动矿石检波器则允许通过调整矿石的位置或压力来改变其单向导电性,以获得最佳的检波效果。 矿石检波器是矿石收音机的重要组成部分,矿石收音机是一种最简单的无线电接收装置,主要用于接收中波公众无线电广播。这种收音机无需电源,节能环保,而且可以用来测试天线或地线的效率,引导初学者和小朋友进入无线电广播的天地。尽管现代的无线电接收设备已经更加先进和稳定,但矿石检波器作为电子技术的早期应用之一,在无线电发展史上仍然具有重要的地位。...

场效应管

场效应管(Field Effect Transistor,FET)也是 Transistor,而且基本形式也是三个脚,那它是不是三极管(Transistor)的一种呢? "Transistor" 这个词的英文原意是由 "transfer" 和 "resistor" 两个词组合而成的。"transfer" 表示转移或传送,而 "resistor" 表示电阻器。因此,"transistor" 的字面意思是“转移电阻器”或“传送电阻器”。然而,在电子学中,"transistor" 并不是真的用来“转移电阻”的。实际上,晶体管(transistor)是一种半导体器件,用于放大或开关电子信号。晶体管通过控制输入电流或电压来控制输出电流,从而实现信号的放大或开关功能。所以,通常晶体管特指由电流放大作用的晶体三极管(也称双极型晶体管),在更广泛的语境中,Transistor 可用来指代各种类型的晶体管,而不仅限于三极管。 场效应管是一种电压控制型半导体器件,也称为单极型晶体管。它依靠半导体中的多数载流子导电,并利用控制输入回路的电场效应来控制输出回路的电流。FET 具有输入电阻高、噪声小、功耗低、动态范围大、易于集成、没有二次击穿现象、安全工作区域宽等优点,现已成为双极型晶体管和功率晶体管的强大竞争者。 上边提到了两个概念:单极型晶体管与双极型晶体管。那么这里的“极型”又是什么意思呢?它通常指的是半导体材料中载流子(电子和空穴)的类型以及它们如何响应外部电场或电压。单极型晶体管和双极性晶体管(双极型晶体管)是两种不同类型的晶体管,它们在工作原理、结构和应用方面有所不同。 单极型晶体管(Unipolar Transistor): 单极型晶体管主要依靠一种载流子(要么是电子,要么是空穴)来导电。 场效应管(FET)就是一种单极型晶体管。在场效应管中,电流是通过半导体中的多数载流子(在 N 型半导体中是电子,在 P 型半导体中是空穴)流动的。 FET 通过改变栅极(Gate)与源极(Source)之间的电压来控制沟道的导电性,从而控制漏极(Drain)与源极之间的电流。 双极性晶体管(Bipolar Transistor): 双极性晶体管同时利用电子和空穴两种载流子来导电。 常见的双极性晶体管有 NPN 型和 PNP 型两种。在这两种晶体管中,都有两个 PN 结,因此得名“双极”。 双极性晶体管通过控制基极(Base)与发射极(Emitter)之间的电流来控制集电极(Collector)与发射极之间的电流。这种控制作用是通过 PN 结的放大效应实现的。 简而言之,“极型”在这里指的是晶体管中参与导电的载流子类型(电子或空穴),以及晶体管结构中所涉及的 PN 结的数量和类型。单极型晶体管主要依赖一种载流子,而双极性晶体管则同时利用电子和空穴。 FET 主要有两种类型:结型场效应管(Junction FET,JFET)和金属-氧化物半导体场效应管(Metal-Oxide Semiconductor FET,MOSFET)。 FET 的工作原理是通过控制栅极(Gate)与源极(Source)之间的电压(即栅源电压 $V_{GS}$),进而改变漏极(Drain)与源极之间的电流(即漏源电流 $I_{DS}$)。当栅源电压为零时,由于 P 型半导体和 N 型半导体在空间电荷分布上的差别,会在内部产生一个电动势,这个电动势会阻止外部电流通过,此时 FET 处于截止状态。当栅源电压增加时,会吸引更多的载流子到栅极下方,形成一个导电沟道,此时 FET 开始导通,漏源电流会随着栅源电压的增加而增加。 FET 的特性包括高输入阻抗、低噪声、低功耗、高速度等,这些特性使得 FET 在模拟电路、数字电路、功率电路等领域都有广泛的应用。例如,FET 可以用作放大器、开关、振荡器、滤波器等电路元件,也可以用于制造传感器、存储器等电子器件。 理解场效应晶体管,先从 JFET 开始。 与三极管类似,箭头画在栅极 G,总是指向 N 型半导体,这是用来区分电路符号是 N 沟道还是 P 沟道的。 结型场效应晶体管(Junction Field-Effect Transistor,JFET):JFET 是由 PN 结栅极(G)与源极(S)和漏极(D)构成的一种具有放大功能的三端有源器件。其工作原理就是通过电压改变沟道的导电性来实现对输出电流的控制。 在一块 N 型半导体上制作两个高掺杂的 P 区并将它们连接在一起,所引出的电极称为栅极 G(Gate),N 型半导体两端分别引出两个电极,分别称为漏极 D(Drain),源极 S(Source)。从名字上来理解也是很通俗的,场效应晶体管好比是水空头,源极 S 是水的来源(进水口),漏极 D 是排水(Drain)口(出水口),而栅极 G 则是阀门。当改变 $V_{GS}$ 时,沟道的宽窄发生了变化,当电压达到一定程度,阀门彻底关闭,阻断电流。 场效应管是一种单极型晶体管,它只有一个 PN 结,在零偏压的状态下, 它是导通的,如果在其栅极(G)和源极(S)之间加上一个反向偏压(称栅极偏压)在反向电场作用下 PN 结变厚(称耗尽区)沟道变窄,其漏极电流将变小(如图 b) ;反向偏压达到一定时, 耗尽区将完全沟道“夹断”,此时,场效应管进入截止状态(如图 c),此时的反向偏压我们称之为夹断电压 $V_p$。 夹断电压($V_p$)与 $V_{GS}$(栅源电压)之间的关系在场效应管(特别是结型场效应管(JFET)和耗尽型绝缘栅型场效应管(MOSFET))的工作原理中非常重要。 对于这两种类型的场效应管,当 $V_{GS} = 0$ 时,已经存在导电沟道。随着 $V_{GS}$ 的负向增大(对于 N 沟道器件)或正向减小(对于 P 沟道器件),沟道逐渐变窄,沟道电阻增大,漏极电流 $I_D$ 逐渐减小。当 $V_{GS}$ 达到某个特定值时,沟道会完全夹断,此时 $I_D$ 几乎为 0。这个特定的 $V_{GS}$ 值就是夹断电压 $V_p$。 换句话说,夹断电压 $V_p$ 是使得沟道完全夹断、漏极电流 $I_D$几乎为 0 的 $V_{GS}$ 值。在 $V_{GS}$ 达到 $V_p$ 之前,场效应管处于导通状态,沟道中存在电流;当 $V_{GS}$ 达到或超过 $V_p$ 时,场效应管进入夹断区,沟道被夹断,电流几乎无法通过。 需要注意的是,对于增强型绝缘栅型场效应管(如增强型MOSFET),在 $V_{GS} = 0$ 时沟道是不存在的,需要正的 $V_{GS}$(对于 N 沟道器件)或负的 $V_{GS}$(对于 P 沟道器件)来开启沟道。因此,夹断电压的概念对于增强型器件来说并不完全适用,而是用开启电压或阈值电压来描述其特性。 对于结型场效应晶体管(JFET),最常见到的是耗尽型 JFET(D-JFET),即在 0 栅偏压时就存在有沟道的 JFET;一般,不使用增强型 JFET(E-JFET)——在 0 栅偏压时不存在沟道的 JFET。这主要是由于长沟道 E-JFET 在使用时较难以产生出导电的沟道、从而导通性能不好的缘故。不过,由于高速、低功耗电路中应用的需要,有时也需要采用 E-JFET。 JFET 导电的沟道在体内。耗尽型和增强型这两种晶体管在工艺和结构上的差别主要在于其沟道区的掺杂浓度和厚度。D-JFET 的沟道的掺杂浓度较高、厚度较大,以致于栅 PN 结的内建电压不能把沟道完全耗尽;而 E-JFET 的沟道的掺杂浓度较低、厚度较小,则栅 PN 结的内建电压即可把沟道完全耗尽。 但是,对于短沟道 E-JFET,情况则有所不同,因为这种晶体管的漏极电压可以作用到源极附近,使得沟道中的势垒降低,所以能够形成导电沟道。这种 E-JFET 从本质上来说也就是静电感应晶体管。 金属-氧化物半导体场效应管(Metal-Oxide Semiconductor FET,MOSFET)它的结构主要由金属、氧化物(通常为 $SiO_2$ 或 SiN)和半导体材料构成。 这种晶体管具有源极(Source)、栅极(Gate)、漏极(Drain)和主体(Body,也称衬底)四个端子。通常, MOSFET 的主体与源极端子会连接在一起,从而使其在三端模式下工作,与常规场效应晶体管相似。 MOSFET 的工作原理是通过控制栅极与源极之间的电压,即栅源电压($V_{GS}$),来改变漏极与源极之间的电流,即漏源电流($I_{DS}$)。具体地说,当在栅极和源极之间施加适当的电压时,会在半导体中形成一个导电沟道,使电流能够从源极流向漏极。沟道的形成和宽度受到栅极电压的控制,从而实现了对电流的调控。 原理图符号相对来说复杂了些,但很类似,不同的是箭头画在了衬底极,相同的是总是指向 N 型半导体(沟道或衬底),可以用来区分电路符号是 N 沟道还是 P 沟道的。二极管可以理解为 D 与衬底形成的 PN 结。 MOSFET 和 JFET 都是场效应晶体管(FET),不过,它们在结构和工作原理上存在一些明显的差异: 结构:JFET 是一种结型场效应晶体管,具有三个端子:源极、漏极和栅极,且其栅极是反向偏置的。而 MOSFET 是金属氧化物半导体场效应晶体管,通常具有四个端子,包括源极、漏极、栅极和衬底(尽管在实际应用中,衬底通常与源极连接,因此有时也将其视为三端器件)。 工作原理:在工作原理上,JFET 只能在耗尽模式下工作,即通过控制栅极电压来耗尽沟道中的载流子,从而控制漏极和源极之间的电流。而 MOSFET 既可以在耗尽模式下工作,也可以在增强模式下工作。在增强模式下,当栅极电压超过阈值电压时,会在沟道中形成反型层,从而允许电流从源极流向漏极。 输入阻抗:JFET 和 MOSFET 都具有很高的输入阻抗,但 MOSFET 的输入阻抗通常比 JFET 更高,这得益于金属氧化物绝缘体在栅极和沟道之间提供的高电阻。 栅极泄漏电流:虽然 JFET 和 MOSFET 的栅极泄漏电流都相对较小,但 MOSFET 的栅极泄漏电流通常比 JFET 更小,这有助于降低功耗和提高器件的稳定性。 总的来说,MOSFET 和 JFET 在结构、工作原理、输入阻抗和栅极泄漏电流等方面存在差异。这些差异使得 MOSFET 在某些应用场合(如低功耗、高输入阻抗和需要增强模式操作等)具有优势,而 JFET 则在其他应用场合(如简单结构和较低成本等)具有优势。 由于 MOSFET 具有的多种优点,如输入电阻高、噪声小、功耗低、动态范围大、易于集成、没有二次击穿现象以及安全工作区域宽等。这些特性使得 MOSFET 在电子开关领域具有广泛的应用,并已成为功率晶体管和双极型晶体管的有力竞争...

晶体二极管

在现代电子设备中,无数微小的组件共同工作,才使得我们的生活如此便捷。其中,晶体二极管(Crystal Diode)或更常见的称呼——二极管(Diode),是一种至关重要的电子元件。它的发明改变了电子技术的发展方向,使得电子设备变得更小、更快、更可靠。 在晶体二极管发明之前,主要使用的是真空电子管作为二极管的替代品。真空电子管在早期的电子设备中扮演了重要角色,用于放大电信号和进行整流等操作。然而,真空电子管存在一些显著的缺点,如制作困难、体积庞大、耗能高以及使用寿命相对较短。 正因为真空电子管的这些不足,业界开始迫切期望能够出现一种更为先进、实用的电子管替代品。这种需求推动了半导体技术的研究和发展,最终导致了晶体二极管的诞生。晶体二极管的出现不仅克服了真空电子管的缺点,而且具有更小的体积、更低的能耗和更长的使用寿命,极大地推动了电子技术的进步和电子设备的发展。 晶体二极管的起源可以追溯到 20 世纪初的“晶体检波器”时期。然而,真正的二极管——具有明显单向导电性的设备——是在 20 世纪 40 年代才被发明出来的。最为人们熟知的二极管类型是 1947 年由贝尔实验室的科学家沃尔特·布拉顿、约翰·巴丁和威廉·肖克莱发明的点接触型锗二极管。这一突破性的发明为后来的晶体管,以及集成电路的发展铺平了道路,他们也因此获得了 1956 年的诺贝尔物理学奖。晶体二极管之所以被称为“晶体”,是因为它的主要构成材料是晶体,如单晶硅或单晶锗。这些晶体材料具有特殊的电学性质,使得晶体二极管能够具有单向导电性,即只允许电流从一个方向通过。 二极管符号中箭头(三角形顶端)指向 N N 型半导体(N 为 Negative 的字头,由于电子带负电荷而得此名):掺入少量杂质磷元素(或锑元素)的硅晶体(或锗晶体)中,由于半导体原子(如硅原子)被杂质原子取代,磷原子外层的五个外层电子的其中四个与周围的半导体原子形成共价键,多出的一个电子几乎不受束缚,较为容易地成为自由电子。于是,N型半导体就成为了含电子浓度较高的半导体,其导电性主要是因为自由电子导电。 P 型半导体(P 为 Positive 的字头,由于空穴带正电而得此名):掺入少量杂质硼元素(或铟元素)的硅晶体(或锗晶体)中,由于半导体原子(如硅原子)被杂质原子取代,硼原子外层的三个外层电子与周围的半导体原子形成共价键的时候,会产生一个“空穴”,这个空穴可能吸引束缚电子来“填充”,使得硼原子成为带负电的离子。这样,这类半导体由于含有较高浓度的“空穴”(“相当于”正电荷),成为能够导电的物质。 PN 结:PN 结是由一个 N 型掺杂区和一个 P 型掺杂区紧密接触所构成的,其接触界面称为冶金结界面。 在一块完整的硅片上,用不同的掺杂工艺使其一边形成 N 型半导体,另一边形成 P 型半导体,我们称两种半导体的交界面附近的区域为 PN 结。 在 P 型半导体和 N 型半导体结合后,由于 N 型区内自由电子为多子,空穴几乎为零称为少子,而 P 型区内空穴为多子,自由电子为少子,在它们的交界处就出现了电子和空穴的浓度差。由于自由电子和空穴浓度差的原因,有一些电子从 N 型区向 P 型区扩散,也有一些空穴要从 P 型区向 N 型区扩散。它们扩散的结果就使 P 区一边失去空穴,留下了带负电的杂质离子,N 区一边失去电子,留下了带正电的杂质离子。开路中半导体中的离子不能任意移动,因此不参与导电。这些不能移动的带电粒子在 P 和 N 区交界面附近,形成了一个空间电荷区,空间电荷区的薄厚和掺杂物浓度有关。 在空间电荷区形成后,由于正负电荷之间的相互作用,在空间电荷区形成了内电场,其方向是从带正电的 N 区指向带负电的 P 区。显然,这个电场的方向与载流子扩散运动的方向相反,阻止扩散。另一方面,这个电场将使 N 区的少数载流子空穴向 P 区漂移,使 P 区的少数载流子电子向 N 区漂移,漂移运动的方向正好与扩散运动的方向相反。从 N 区漂移到 P 区的空穴补充了原来交界面上 P 区所失去的空穴,从 P 区漂移到 N 区的电子补充了原来交界面上 N 区所失去的电子,这就使空间电荷减少,内电场减弱。因此,漂移运动的结果是使空间电荷区变窄,扩散运动加强。最后,多子的扩散和少子的漂移达到动态平衡。在 P 型半导体和 N 型半导体的结合面两侧,留下离子薄层,这个离子薄层形成的空间电荷区称为 PN 结。PN 结的内电场方向由 N 区指向 P 区。在空间电荷区,由于缺少多子,所以也称耗尽层。 从 PN 结的形成原理可以看出,要想让 PN 结导通形成电流,必须消除其空间电荷区的内部电场的阻力。很显然,给它加一个反方向的更大的电场,即 P 区接外加电源的正极,N 区接负极,就可以抵消其内部自建电场,使载流子可以继续运动,从而形成线性的正向电流。而外加反向电压则相当于内建电场的阻力更大,PN 结不能导通,仅有极微弱的反向电流(由少数载流子的漂移运动形成,因少子数量有限,电流饱和)。当反向电压增大至某一数值时,因少子的数量和能量都增大,会碰撞破坏内部的共价键,使原来被束缚的电子和空穴被释放出来,不断增大电流,最终PN结将被击穿(变为导体)损坏,反向电流急剧增大。 这就是 PN 结的特性(单向导通、反向饱和漏电或击穿导体),也是晶体管和集成电路最基础、最重要的物理原理,所有以晶体管为基础的复杂电路的分析都离不开它。比如二极管就是基于 PN 结的单向导通原理工作的;而一个 PNP 结构则可以形成一个三极管,里面包含了两个 PN 结。二极管和三极管都是电子电路里面最基本的元件。 二极管有许多种类,根据材料、结构、功能等不同的分类标准,可以将其分为不同类型。 根据材料,二极管主要分为硅二极管和锗二极管。硅二极管的工作温度范围更广,稳定性更好,因此在现代电子设备中更为常见。锗二极管的正向导通电压通常比硅二极管低。 根据结构,二极管可以分为点接触型、面接触型和平面型等。不同类型的二极管在电流容量、工作速度、耐压能力等方面有所不同。 根据功能,二极管还可以分为整流二极管、检波二极管、稳压二极管、开关二极管、发光二极管(LED)等。这些二极管在电子设备中发挥着各种各样的作用,如电源整流、信号检测、电压稳定、电路开关、指示和照明等。 晶体二极管作为现代电子技术的基石之一,其重要性不言而喻。从无线电、电视、电脑,到手机、LED照明、太阳能电池板,无数我们日常生活中离不开的电子设备,其内部都有二极管的身影。随着科技的不断发展,二极管也在不断进步,更小、更快、更节能的二极管正在不断被研发出来,为我们的未来带来更多可能...

旋转编码开关(Rotary Encoder)

旋转编码开关是一种电子开关,可以通过旋转旋钮来控制电路。它通常由一个旋转编码器和一个按键组成。旋转编码器通常由两个部分组成:旋转轴和编码器。旋转轴是一个旋转旋钮,可以通过旋转来控制电路。编码器是一个由两个感应器组成的环形装置,可以检测旋转轴的旋转方向和旋转步数。每次旋转时,编码器会输出一个二进制码来表示旋转方向和步数,从而实现精确的控制。 旋转编码开关通常用于在多个离散状态之间进行选择,如控制音量、调节屏幕亮度等功能。通过旋转编码开关,可以改变电路的连接状态,从而控制设备的功能。 常用的旋转编码开关旋转―周输出 20 个脉冲,每个脉冲代表编码开关旋转了一定的角度,旋转编码开关一般有 3 个或 5 个引脚的,5 脚的比 3 脚的仅多 2 个按键引脚,另外 3 个引脚的功能与只有 3 个引脚的旋转编码开关功能相同,分别实现旋转时输出脉冲,在对编码器进行左旋和右旋时,其输出波形如图1(a)和图1(b)所示。 判断左右旋转有多个方法,比如,A上升沿时B为低电平就表示右旋,B为高电平就表示左旋。要注意处理管脚信号的抖动。 应用电路...

智能卡

智能卡(Smart Card)是一种内嵌有微芯片的塑料卡,通常与信用卡大小相同。这种卡配备了 CPU、RAM 和 I/O,能够自行处理数量较多的数据而不会干扰到主机 CPU 的工作。此外,智能卡还可以过滤错误的数据,以减轻主机 CPU 的负担。它适应于端口数目较多且通信速度需求较快的场合。 智能卡的标准主要包括 ISO7816 系列。这些标准详细规定了智能卡的物理特性、触点尺寸和位置、电信号和传输协议等关键方面。例如,ISO7816-1 规定了带触点集成电路卡的物理特性,如触点的电阻、机械强度、热耗、电磁场、静电等;ISO7816-2 则规定了 ID-1 型 IC 卡上每个触点的尺寸、位置和任务分配。 类别 除了 PSAM(销售点安全模块)和 ESAM(嵌入式安全模块)之外,智能卡还包括其他多种类型。根据应用领域和功能,智能卡主要可以划分为以下几种: 金融卡:也称为银行卡,包括信用卡和现金卡两种。信用卡可以在消费支付时按预先设定额度透支资金,而现金卡则作为电子钱包或电子存折,但不能透支。 非金融卡:也称为非银行卡,涉及范围十分广泛,实际包含金融卡之外的所有领域,诸如电信、旅游、教育和公交等等。 交通卡:这种卡主要应用于公共交通领域,如地铁、公交等。 政府应用卡:如社保卡等,现在应用较广泛。 另外,根据镶嵌芯片的不同,智能卡还可以分为存储器卡、逻辑加密卡和 CPU 卡。存储器卡功能简单,没有(或很少有)安全保护逻辑,但价格低廉,开发使用简便,存储容量增长迅猛,因此多用于某些内部信息无需保密或不允许加密的场合。逻辑加密卡有一定的安全保证,多用于有一定安全要求的场合。而 CPU 卡则具有很高的数据处理和计算能力以及较大的存储容量,同时采取了多层次的安全措施,因此应用的灵活性、适应性较强,已成为一卡多用及对数据安全保密性特别敏感场合的最佳选择。 形态 标准卡、SIM卡、双列直插(ESAM)等 通信接口 ISO7816-3 标准的智能卡接口是需要外部提供时钟(也有内部时钟的)和采用单线半双工串行通信的接口。 加密算法 通常广泛支持 3DES 算法,也有内嵌国密 SM1 算法的(如电力上用的 ESAM 芯片、CPU 卡等)。 功能 信息存储(内置EEPROM)、秘钥管理、权限认证等。 驱动电路 可以直接使用带有智能卡模式的 USART 通信,USART_CK 接 CLK,USART_TX(智能卡模式收发在内部通过SW_RX连接)接 IO。 如果要适应更多卡,比如不同的电压,或为电路提供更多的安全保障(短路等),通常会选择专用的接口芯片装在卡与 MCU 之间,比如使用 ST8024,更具体的可以研究一下 8024 的手册看...

铁电(FRAM)随机存取存储器 MB85RC64

存储空间:8KB 不同于 Flash 和 E2PROM,无需写等待时间。 使用 I2C 总线,频率可到 400KHz。 数据可以保持 10 年。 WP 脚为高电平时处于写保护状态,默认已内部下拉到地。 器件地址为 7bits 模式,高4位为设备类型码(1010b),低 3 位由硬件引脚 A2、A1、A0 指定(已内部下拉),与 MB85RC16 是不同的。这使得一条总线上可以挂载多个同型号的器件。 存储器的写与读速度是相同的,所以无需在写的时候额外添加等待时间。 8KB 存储空间的有效地址为 13 位。 随机读: 写字节: 写页: 存储器的页指的是整个 8KB 的存储区,没有划分为若干页。当地址空间溢出时回回滚到 000H 继续增长...

铁电(FRAM)随机存取存储器 MB85RC16

存储空间:2KB 不同于 Flash 和 E2PROM,无需写等待时间。 使用 I2C 总线,频率可到 1MHz。 数据可以保持 10 年。 WP 脚为高电平时处于写保护状态,默认已内部下拉到地。 器件地址为 7bits 模式,高 4 位为设备类型码(1010b),低 3 位为存储地址的高 3 位。 写字节: 写页: 存储器的页指的是整个 2KB 的存储区,没有划分为若干页。当地址空间溢出时回回滚到 000H 继续增长。 读当前地址: 上一次操作完成后存储器的地址仍被保留再地址缓冲器中,这时使用读当前地址命令可以直接读到缓冲器缓存的地址(n + 1)指向的存储区。地址缓冲器中的地址在上电后是不确定的。11 位地址的高三位是需要指定的。 随机读取: 读取可以持续进行,地址溢出后会回滚到000...